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首頁 > 標(biāo)簽：關(guān)于缺陷逃逸率的思考

  • ??關(guān)于缺陷逃逸率的思考??

    在軟件開發(fā)和測(cè)試領(lǐng)域，“缺陷逃逸率”是一個(gè)不容忽視的關(guān)鍵指標(biāo)。它指的是未能在測(cè)試階段被發(fā)現(xiàn)，而直接進(jìn)入生產(chǎn)環(huán)境的缺陷比例。盡管聽起...

    2025年03月13日 18:33:11
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