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首頁 > 標(biāo)簽：x射線熒光光譜法的基本原理

  • x射線熒光光譜法的基本原理

    X射線熒光光譜法（XRF）是一種利用物質(zhì)在受到X射線激發(fā)后發(fā)射出特征X射線來進(jìn)行元素分析的技術(shù)。這項(xiàng)技術(shù)廣泛應(yīng)用于地質(zhì)勘探、冶金工業(yè)、環(huán)

    2025年06月04日 10:19:44
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